Борид вольфрама
| Борид вольфрама | |
|---|---|
| |
| Общие | |
| Систематическое наименование |
Борид вольфрама |
| Традиционные названия | Бористый вольфрам; моноборид вольфрама |
| Хим. формула | WB |
| Физические свойства | |
| Состояние | серые кристаллы |
| Молярная масса | 194,66 г/моль |
| Плотность | 15,73 г/см³ |
| Термические свойства | |
| Температура | |
| • плавления | 2860; 2920 °C |
| Классификация | |
| Рег. номер CAS | 12007-09-9 |
| PubChem | 82793 и 92028856 |
| Рег. номер EINECS | 234-498-8 |
| SMILES | |
| InChI | |
| ChemSpider | 74715 |
| Приведены данные для стандартных условий (25 °C, 100 кПа), если не указано иное. | |
Борид вольфрама — неорганическое соединение металла вольфрама и бора с формулой WB, серые кристаллы.
Получение
- Реакция чистых веществ:
- Алюмотермическое восстановление смеси оксида вольфрама(VI) и оксида бора:
Физические свойства
Борид вольфрама образует серые кристаллы нескольких модификаций:
- α-WB, тетрагональная сингония, параметры ячейки a = 0,3101—0,3115 нм, c = 1,691—1,695 нм, структура типа α-формы борида молибдена MoB;
- β-WB, ромбическая сингония, параметры ячейки a = 0,3124—0,319 нм, b = 0,84—0,8445 нм, c = 0,306—0,307 нм, структура типа борида хрома CrB;
- δ-WB, тетрагональная сингония.
Литература
- Химическая энциклопедия / Редкол.: Кнунянц И.Л. и др.. — М.: Советская энциклопедия, 1988. — Т. 1. — 623 с.
- Справочник химика / Редкол.: Никольский Б.П. и др.. — 3-е изд., испр. — Л.: Химия, 1971. — Т. 2. — 1168 с.
- Рипан Р., Четяну И. Неорганическая химия. Химия металлов. — М.: Мир, 1972. — Т. 2. — 871 с.
- Самсонов Г. В., Серебрякова Т. И., Неронов В. А. Бориды. — М.: Атомиздат, 1975. — 376 с.
- Shigeki Otani, Yoshio Ishizawa. Preparation of WB2−x single crystals by the floating zone method // Journal of Crystal Growth. — 1995. — Т. 154, вып. 1—2. — С. 81—84. — doi:10.1016/0022-0248(95)00155-7.
- Shigeru Okada, Kunio Kudou, Torsten Lundström. Preparations and Some Properties of W2B, δ-WB and WB2 Crystals from High-Temperature Metal Solutions // Japanese Journal of Applied Physics. — 1995. — Т. 34. — doi:10.1143/JJAP.34.226.
